Difracción de electrones

El difractómetro de electrones XtaLAB Synergy-ED, facilita una transición fluida de la recogida de datos a la determinación de estructuras moleculares tridimensionales. Es fruto de una colaboración innovadora destinada a amalgamar nuestras tecnologías fundamentales: El detector de electrones rápido y altamente sensible de Rigaku (HyPix-ED), y una plataforma puntera de software de gestión de instrumentos y análisis de monocristales (CrysAlisPro para ED), con la amplia experiencia y liderazgo de mercado de JEOL en el diseño y fabricación de microscopios electrónicos de transmisión.

El difractómetro de electrones integrado garantiza un flujo de trabajo ininterrumpido desde la recopilación de datos hasta la interpretación de estructuras moleculares 3D.

Este equipo permite examinar muestras nanocristalinas gracias a la capacidad de la difracción de electrones para medir cristales de tan solo cientos de nanómetros o menos. Esta escala es miles de veces menor que la que se puede analizar con un sincrotrón.

Este aparato puede funcionar en un amplio espectro de temperaturas, desde 100 K hasta 1000 K. La técnica ofrece numerosas funciones, como la cristalización in situ, la elucidación de la estructura absoluta y la difracción de polvos, entre otras.

Características y funcionalidades clave:

• Estructura de los nanocristales: El dispositivo incorpora un detector extremadamente rápido y un goniómetro de amplio alcance, lo que permite la recopilación completa de datos en cuestión de minutos.
• Indexación: Permite la indexación rápida de nanocristales en segundos.
• Cristalización in situ: El dispositivo de baja temperatura permite la cristalización in situ de muestras sensibles.
• Medidas a 100 K: Puede medir a temperaturas de 100 K, lo que mejora la estabilidad de la muestra y la calidad de la medición.
• Preparación de muestras a 100 K:El ED está equipado con un criostato externo para preservar muestras inestables.
• Horno para mediciones de hasta 1000 K:Para análisis especiales, cuenta con un horno interno que alcanza temperaturas de hasta 1073 K.
• Configuración absoluta:Utilizando esta metodología, es posible determinar la configuración absoluta de compuestos, incluso cuando el tamaño de sus cristales es de apenas cientos de nanómetros.

El equipo «XtaLAB Synergy-ED» ha sido financiado por la subvención EQC2021-006956-P, con financiación de MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y por el programa NextGenerationEU/PRTR de la Unión Europea.